Акционерное общество
«НИИЭФА им. Д.В. Ефремова»
Акционерное общество
«НИИЭФА им. Д.В. Ефремова»
О компании Контакты Вакансии Новости Противодействие коррупции и хищениям Поставщикам Экологическая безопасность Охрана труда Торги имущества ПСР
 

РАДИОГРАФИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС

Радиационные комплексы на базе последнего поколения ускорителей электронов УЭЛ-15-Д, УЭЛ-10-Д, УЭЛ-8-Д, УЭЛ-6-Д, УЭЛ-3-Д предназначены для обнаружения внутренних дефектов в крупногабаритных стальных изделиях (сварных структурах, отливках, поковках, прокате и т.д.) толщиной от 50 до 600 мм посредством просвечивания пучком тормозного излучения.

Схема радиографического комплекса Излучатель  радиографического комплекса  неразрушающего контроля (15 МэВ)
Схема радиографического комплекса Излучатель радиографического комплекса неразрушающего контроля (15 МэВ)

Прошедший через исследуемый объект пучок тормозного излучения регистрируется на рентгеновской пленке размером 300х400 мм.

Возможен контроль изделий толщиной до 600 мм (по стали) с радиографической чувствительностью более 1%.

Внутри излучателя, независимо от его модификации, устанавливается первичный конусный коллиматор для формирования поля облучения. На радиографе дополнительно монтируется коллиматор с раздвижными диафрагмами, который позволяет выбрать необходимый размер поля облучения. Используется лазерное наведение излучателя на контролируемый участок.

Излучатель для радиографии снабжен специальным подвесом, позволяющим менять его положение относительно контролируемого изделия. Угол поворота излучателя: в горизонтальной плоскости - от +180° (вправо) до -135° (влево); в вертикальной плоскости - от +45° (вверх) до -95° (вниз).

При помощи подвеса излучатель монтируется на электрокране или другом устройстве, обеспечивающем его горизонтальное и вертикальное перемещения. Максимальное перемещение излучателя в горизонтальной плоскости может достигать 100м. Расстояние от мишени до контролируемого объекта обычно составляет 1-2 м.

 
© 2004-2018, НИИЭФА им. Д.В.Ефремова, ОИТ. English version Яндекс.Метрика